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Testando Componentes Eletrônicos


Luis Carlos Burgos



96 páginas - 2ª edição - 2007


ISBN: 9788570361363


Formato: 21 x 28


Referência: AN-5530A


R$32,90       


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Resumo de obra:

Multímetros adequados para o teste de componentes;
Teste de fusíveis;
Teste de resistores;
Teste de capacitores;
Teste de diodos;
Teste de transistores;
Teste de bobinas e transformadores;
Testes de CI reguladores;
Testes de SCR e TRIAC;
Teste de relês;
Teste de componentes de forno microondas;
Teste de componentes de CD player;
Teste de componentes de gravadores e toca-fitas;
Teste de fones e alto falantes;
Teste de Yoke de televisão;
Teste de tubo de imagem de televisão;
Teste de componentes especiais;
Teste de componentes no circuito;
Teste de display de rádio-relógio.

Capítulo 1
Multímetros adequados para teste dos componentes

XCapítulo 2
Teste de chaves e fusíveis

Capítulo 3
Teste de resistores

Capítulo 4
Teste de capacitores

Capítulo 5
Teste de Diodos

Capítulo 6
Teste de Transistores Bipolares

Capítulo 7
Teste de Transistores Mosfet

Capítulo 8
Teste de outros componentes Semicondutores

Capítulo 9
Teste de Bobinas ou Indutores

Capítulo 10
Teste de transformadores (Trafos)

Capítulo 11
Teste de Retificadores controlados de Silício (SCR E TRIAC)

Capítulo 12
Teste de CI's Reguladores de tensão da série 78XX e 79XX

Capítulo 13
Teste de curto Num CI

Capítulo 14
Teste do transistor de saída horizontal de televisores

Capítulo 15
Teste do CI STR50103A e Semilares

Capítulo 16
Teste do CI STRS6707 e Semilares

Capítulo 17
Teste de Componentes diversos

Capítulo 18
Teste de Rêles

Capítulo 19
Teste de componentes de forno microondas

Capítulo 20
Testes em componentes de CD Player

Capítulo 21
Testes nos componentes do gravador e toca fitas

Capítulo 22
Teste de fones e alto falantes

Capítulo 23
Teste do Yoke dos televisores e monitores

Capítulo 24
Teste de tubo de imagem (Cinescópio)

Capítulo 25
Teste de componentes especiais

Capítulo 26
Teste de componentes no circuito

Capítulo 27
Teste de Display de rádio relógio

Capítulo 28
Teste de cristais

Capítulo 29
Teste de Transistores digitais

Componentes por ordem alfabética
Bibliografia

Luis Carlos Burgos - --
>> Site: http://www.burgoseletronica.cjb.net


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